海德汉历史中和产品开发中的里程碑公司源自威廉·海德汉于1889年在德国柏林创建的金属蚀刻工厂。 这家工厂生产模板，标识，刻度尺和标尺。 二战期间公司被毁，威廉·海德汉之子在地处德国特劳恩罗伊特创建约翰内斯·海德汉博士公司（DR. JOHANNES HEIDENHAIN）。 zui初的产品也是刻度尺和零售用的计价秤。 不久后开始生产机床的光学位置测量系统。 六十年代初期开始转向生产光电扫描的直线光栅尺和角度编码器。 这些发展促成了制造业中许多机器和设备的自动化。 七十年代中期以后，海德汉公司已成为机床数控系统和驱动系统的重要制造商。 自公司创建始，一直秉持注重技术发展之路。 为保持公司持续发展和技术地位，1970年约翰内斯?海德汉博士将其持有的公司股份转入基金会。 这使今天的海德汉公司可投入大量资金进行研发。 重要历史里程碑1889 | 威廉·海德汉在柏林创建金属蚀刻公司 | 1923 | 约翰内斯·海德汉博士加入其父亲的公司 | 1948 | 约翰内斯·海德汉博士公司开始在特劳恩罗伊特运营 | 1950 | 发明DIADUR工艺： 用母版光栅制版技术生产高耐用性的高精度光栅 | 1970 | 成立非赢利的约翰内斯·海德汉基金会 | 1980 | 约翰内斯·海德汉博士去世 | 2014 | 海德汉在全部工业化国家设立代表处 |
计量项目1961 | 光电扫描测量显微镜 | 1966 | 为德国联邦物理技术研究院（PTB）提供干涉比较仪 | 1971 | 为PTB提供角度测量台和圆光栅检测设备 | 1977 | 为PTB提供高精度纳米尺 | 1989 | 新技术望远镜（NTT）的角度编码器 | 1999 | 超大型望远镜（VLT）的角度编码器 | 1999 | 多个国家计量院间NANO-3长度比对测量的直线光栅尺 | 2001 | 为PTB提供纳米干涉比较仪 | 2003 | 海德汉，PTB与AIST（日本产业技术综合研究所）间角度比对测量 | 2004 | 海德汉，PTB与MITUTOYO间长度比对测量 | 2004 | 角度编码器用于加那利大型望远镜（Gran escopio CANARIAS） | 2005 | 海德汉与PTB间角度比对测量 | 2007 | 为25个欧洲ALMA天线提供角度编码器（Atacama大型阵列望远镜） | 2013 | 角度编码器用于丹尼尔·井上太阳望远镜（DKIST，原优良技术太阳望远镜，ATST） |
光栅技术里程碑1936 | 用照相制版生产玻璃光栅尺，精度± 0.015 mm | 1943 | 用制版技术生产圆光栅，精度± 3秒 | 1952 | 重量秤成为主要收入来源 | 1967 | 自持光栅，显微结构 | 1985 | 增量式直线光栅尺的距离编码参考点 | 1986 | 相位光栅 | 1995 | 二维编码器格栅 | 2002 | 干涉扫描直线光栅尺的平面相位光栅 | 2005 | 抗污染的幅值光栅，激光烧蚀法生产 | 2009 | 大型二维格栅（400 mm x 400 mm），用于半导体工业的测量系统 |
编码器里程碑： 敞开式直线光栅尺1952 | 机床的光学直线光栅尺 | 1961 | LID 1增量式直线光栅尺，栅距8 μm / 测量步距2 μm | 1963 | LIC式直线光栅尺，18条刻轨，纯二进制编码 / 测量步距5 μm | 1965 | 激光干涉仪，用于机床校准 | 1987 | LIP 101敞开式干涉扫描直线光栅尺，测量步距0.02 μm | 1989 | LIP 301敞开式干涉扫描直线光栅尺，测量步距1 nm | 1992 | PP 109R二维干涉扫描直线光栅尺 | 2008 | LIP 200干涉扫描直线光栅尺，信号周期0.512 μm，zui高运动速度3 m/s | 2010 | LIC 4000式敞开直线光栅尺，2条刻轨，伪随机码，EnDat 2.2，zui大测量长度27 m和分辨率1 nm | 2012 | LIC 2100式单条刻轨直线光栅尺 | 2015 | LIP 6000紧凑型干涉扫描直线光栅尺 |
编码器里程碑： 封闭式直线光栅尺1952 | 机床的光学直线光栅尺 | 1966 | LIDA 55.6全封闭增量式钢带直线光栅尺 | 1975 | LS 500玻璃光栅的增量式直线光栅尺，zui大测量长度3 m，测量步距10 μm | 1977 | LIDA 300增量式直线光栅尺，zui大测量长度30 m | 1994 | LC 181全封闭式直线光栅尺，7条刻轨，EnDat接口，测量长度3 m，测量步距0.1 μm | 1996 | LC 481式直线光栅尺，2条刻轨， PRC，EnDat，zui大测量长度2 m | 2011 | LC 200式直线光栅尺，zui大测量长度28 m，PRC，测量步距10 nm | 2014 | LC xx5式直线光栅尺，zui大测量长度4 m，测量步距1 nm | 2015 | LP 100增量式直线光栅尺，zui大测量长度3 m，测量步距32.5 pm |
编码器里程碑： 角度编码器1952 | 光学角度编码器 | 1957/1961 | ROD 1光电扫描角度编码器，每圈40,000个信号周期，10,000线 | 1962 | ROD 1每圈72,000个信号周期 | 1964 | ROC 15式角度编码器 / 分辨率17 bit | 1975 | ROD 800增量式角度编码器，精度± 1秒 | 1986 | RON 905增量式角度编码器，精度± 0.2秒 | 1997 | RCN 723式角度编码器，空心轴带定子联轴器版，单圈23 bit，EnDat接口，精度± 2秒 | 2000 | ERP 880干涉扫描角度编码器，每圈180,000个信号周期，精度± 0.2秒 | 2004 | RCN 727式角度编码器，空心轴，zui大直径100 mm | 2009 | ROP 8080晶片测针的干涉扫描角度编码器，有承载功能的角度编码器，每圈360,000个信号周期 | 2011 | ERP 1080微型干涉扫描角度编码器，单芯片的编码器结构 |
编码器里程碑： 旋转编码器1957/1961 | ROD 1增量式光电扫描旋转编码器，10,000线 | 1964 | ROD 2 / ROD 4系列增量式标准旋转编码器 | 1981 | ROD 426增量式旋转编码器：工业标准 | 1987 | ROC 221 S式多圈编码器，单圈12 bit，多圈9 bit | 1992 | ERN 1300伺服驱动的增量式旋转编码器，zui高工作温度120 °C | 1993 | ECN 1300和EQN 1300式单圈和多圈旋转编码器 | 2000 | EQN 1100微型式多圈旋转编码器，板载芯片技术 | 2000 | ECN 100式单圈旋转编码器，zui大空心轴直径50 mm | 2004 | ECI 1100和EQI 1100微型式单圈和多圈旋转编码器，感应扫描 | 2007 | 式旋转编码器带“功能安全"特性，满足SIL2/PL d应用要求和EnDat 2.2接口SIL2/PL d应用要求及EnDat 2.2接口 | 2012 | ERN 1387高精度增量式扫描，采用创新的
扫描asic芯片 | 2014 | 式旋转编码器满足SIL3/PL e应用要求，带EnDat 2.2接口和故障防范 |
NC数控系统和电子产品里程碑1968 | VRZ 59.4单轴双向计数器 | 1974 | 海德汉5041数显装置 | 1976 | TNC 110和TNC 120 3轴数字定位控制系统 | 1979 | TNC 131 / TNC 135简易数控系统 | 1981 | TNC 145 3轴数控系统 | 1984 | TNC 155 4轴数控系统，带工件加工图形仿真功能 | 1995 | EnDat位置编码器的同步串行接口 | 1996 | TNC 426配数字驱动的5轴数控系统 | 1996 | TNC 410 MA海德汉全套变频器和电机 | 2004 | iTNC 530配新型smarT.NC操作模式的数控系统 | 2007 | TNC 620配串行数控接口HSCI的数控系统 | 2011 | TNC 640铣车复合加工数控系统 |
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